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中析研究所是拥有CMA资质的第三方检测机构,为集体所有制的研究所。提供EDS成分分析服务。提供原始数据检测报告,工程师全程项目跟进,科学、准确、公正!
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
检测周期:7-15个工作日出具检测报告。
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高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;
金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;
可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;
金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域;
进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
非均匀样品的局部化学成分(点);
较少量材料或小颗粒材料的化学成分(点);
非均匀样品种一维/二维的成分分布(线/面);
沉积在任意衬底上的薄膜成分(面)。
有标样定量分析:在相同条件下,同时测量标样和式样中各元素的X射线强度,通过强度对比,在经过修正后可求出各元素的百分含量,有标样分析准确度高。
无标样定量分析:标样X射线强度是通过理论计算或者数据库进行定量计算。(半定量)
CEI 45-35-1997:半导体X射线能谱仪的标准试验程序
GA/T 823.3-2018:法庭科学油漆物证的检验方法 第3部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1519-2018:法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1520-2018:法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1521-2018:法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1522-2018:法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GB/T 2679.11-2008:纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
GB/T 11685-2003:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
GB/T 15246-2002:硫化物矿物的电子探针电量分析方法
GB/T 15617-2002:硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法
实力保障:集体所有制科研所,科研项目全。
免费初检:免费进行初检,让您检测无忧。
周期更短:7-10个工作日可出具检测报告。
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技术先进:博士团队,欧美进口设备300余台。
严谨公正:公检法部门合作单位,科学准确。
多家分部:接受全国上门取样/寄样服务。
一键查询:支持扫描查询真伪,报告认可度高。
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质量:判定原料质量,减少生产风险。
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