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中析研究所是拥有CMA资质的第三方检测机构,为集体所有制的研究所。专注分析检测领域,提供元素检测、含量分析、成分配方、性能改进等服务。具有先进的检测设备,庞大的微谱图库,专家博士团队。检测报告数据准、方案全、更严谨!
元素离子测试 |
金属元素测试 |
非金属元素测试 |
阴阳离子测试 |
表面元素测试 |
同位素测试 |
放射性元素测试 |
其他检测 |
项目类别 |
元素 |
重金属元素铅 |
Pb、铬Cr、汞Hg、砷As、镉Cd、六价铬Cr6+ |
贵金属元素 |
金、Au、银Ag、铂Pt、锇Os、铱Ir、钌Ru、铑Rh、钯Pd |
金属元素 |
锂Li、铍Be、钠Na、镁Mg、铝Al、钾K、钙Ca、钪Sc、Ti、钒V、铬Cr、锰Mn、铁Fe、钴Co、镍Ni、铜Cu、锌Zn、镓Ga、锗Ge、铷Rb、锶Sr、钇Y、锆Zr、铌Nb、钼Mo、铟In、锡Sn、锑Sb、碲Te、铯Cs、钡Ba、铪Hf、钨W、铼Re、铊Tl、铋Bi、硒Se及其氧化物 |
稀土金属元素 |
镧La、铈Ce、镨Pr、钕Nd、钷Pm、钐Sm、铕Eu、钆Gd、铽Tb、镝Dy、钬Ho、铒Er、铥Tm、镱Yb、镥Lu、钇Y、钪Sc及其氧化物、稀土总量 |
金属元素全扫 |
XRF-X射线荧光光谱仪元素全扫测试,无损检测 |
测试元素 |
测试方法/标准 |
卤素:氟F、氯Cl、溴Br、碘I |
氧弹-IC、电位滴定 /BS EN 14582:2007 |
碳C、氢H、氧O、氮N、硫S |
氧氮分析仪、碳硫分析仪、有机元素分析仪 |
硼B、硅Si、磷P |
电感耦合等离子发射光谱仪ICP-OES 分光光度法UV-Vis |
项目类别 |
元素 |
常见阴离子 |
磷酸根离子PO43-、甲酸根离子HCOO-、醋酸根(乙酸根)离子Ac-、草酸根离子C2O42-、硝酸根NO3-、亚硝酸根离子NO2-、硫酸根离子SO42- 、氟离子F-、氯离子Cl-、溴离子Br-、碘离子I-
|
常见阳离子 |
钠离子Na+、钾离子K+、钙离子Ca2+、镁离子Mg2+、铵根离子NH4+ |
对于样品表面的一些化学信息较为关注时,会采用表面分析技术,目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS),X射线光电子能谱仪(XPS),俄歇电子能谱仪(AES)等。扫描电镜-能谱仪(SEM-EDS)可以对样品表面形貌观察,表面元素分析,截面形貌观察,截面元素分析等,分析深度一般为微米(10-6m)级别。X射线光电子能谱仪(XPS)和俄歇电子能谱仪(AES)可对样品进行表面元素分析,表面纵向元素分析,表面元素价态分辨,分析深度通常为纳米(10-9m)级别。
同位素 |
测试仪器 |
14C年代测定 |
加速质谱仪 |
13C、15N、18O、D氚 |
稳定同位素质谱仪 |
6LI、10B同位素 |
电感耦合等离子质谱仪 |
项目类别元素 |
天然放射性核素限量镭-226,钍-232,钾-40,铀-238 |
γ辐射剂量率 |
/ |
总辐射量 |
/ |
水质放射性 |
总α,总β |
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) | 电感耦合等离子体质谱ICP-MS |
波长型X射线荧光光谱仪(XRF) | 能量散射型X射线荧光光谱仪(EDX) |
有机元素分析仪 | 扫描电子显微镜X射线能谱仪(SEMEDS) |
紫外/可见光分光光度计(UV) | 原子吸收分光光度计(AAS) |
原子发射分光光度计(AES) | 离子色谱 |
直读光谱仪 | CS分析仪 |
GB/T 17418.7-2010 地球化学样品中贵金属分析方法 第7部分:铂族元素量的测定
YS/T 372.1-2006 贵金属合金元素分析方法 银量的测定
YS/T 372.2-2006 贵金属合金元素分析方法 铂量的测定
YS/T 372.3-2006 贵金属合金元素分析方法 钯量的测定
YS/T 372.4-2006 贵金属合金元素分析方法 铜量的测定
YS/T 372.7-2006 贵金属合金元素分析方法 钴量的测定
YS/T 372.9-2006 贵金属合金元素分析方法 镍量的测定
GB/T 33042-2016 木质地板饰面层中铅、镉、铬、汞重金属元素含量测定
GB 20814-2014 染料产品中重金属元素的限量及测定
YS/T 372.17-2006 贵金属合金元素分析方法 钨量和铼量的测定
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